尼康顯微鏡集成電路檢測
2020-09-03 14:32:01
探索與反射光共聚焦顯微鏡集成電路的實時共聚焦成像ⓚⓛⓜⓝⓞⓟⓠⓡⓢ。 說明本教程的操作被賦予小程序窗口下方⒔⒕⒖⒗⒘⒙⒚⒛ⅠⅡⅢⅣⅤⅥⅦⅧⅨⅩⅪⅫⅰⅱ。
本教程模擬了使用尼康OPTIPHOT 200C IC檢測共聚焦顯微鏡集成電路成像⒔⒕⒖⒗⒘⒙⒚⒛ⅠⅡⅢⅣⅤⅥⅦⅧⅨⅩⅪⅫⅰⅱ。 使用選擇的集成電路下拉菜單中選擇一個芯片的圖像⑰⑱⑲⑳⓪⓿❶❷❸❹❺。 然后使用聚焦深度滑塊通過顯微鏡可見㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉，通過各種焦平面砸焦點⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤。 點擊藍色箭頭按鈕ⅲⅳⅴⅵⅶⅷⅸⅹⒶⒷⒸⒹ，滑塊的左側和右側將切換至在一個訂單中的圖像㈠㈡㈢㈣㈤㈥㈦。